Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.

Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается). Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"

Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.

Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".




Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru


 МПК » H » H01 » H01J » H01J037/00
Поиск в МПК:   
Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки (33/00,40/00,41/00,47/00,49/00 имеют преимущество; методы или устройства сканирующего зонда G 01Q; бесконтактные испытания электронных схем с использованием электронных пучков G 01R 31/305)[2,5]
H01J037/28: ..со сканирующими лучами (микроанализаторы со сканирующими лучами 37/256)
Всего позиций: 28        [1-28] 
Публикация Название
2069412ДЕТЕКТОР ОБРАТНО - ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ ДЛЯ РАСТРОВОГО ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА
2019885ИМПУЛЬСНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ ЭЛЕКТРОННО - ЛУЧЕВЫХ МИКРОЗОНДОВЫХ ПРИБОРОВ
2297072ИНЕРЦИОННЫЙ ДВИГАТЕЛЬ
2124780КАНТИЛЕВЕР ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА
2153731КАНТИЛЕВЕР ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА
2161344КАНТИЛЕВЕР ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА
2089968КОМБИНИРОВАННЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП - РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП
2019884КОРПУСКУЛЯРНО - ЛУЧЕВОЙ ТЕСТЕР
2056666МИКРОМАНИПУЛЯТОР ДЛЯ ПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ ЗОНДА
2124251МНОГОЗОНДОВЫЙ КАНТИЛЕВЕР ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА
2152103СВЕРХВЫСОКОВАКУУМНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП
2161343СВЕРХВЫСОКОВАКУУМНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП
2152063СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП
2159454СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП
2334214СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП
2109369СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП И СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СВОЙСТВ ПОВЕРХНОСТЕЙ ЭТИМ МИКРОСКОПОМ
2227333СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С СИСТЕМОЙ АВТОМАТИЧЕСКОГО СЛЕЖЕНИЯ ЗА КАНТИЛЕВЕРОМ
2233490СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, СОВМЕЩЕННЫЙ С УСТРОЙСТВОМ МЕХАНИЧЕСКОЙ МОДИФИКАЦИИ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА
2194807СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ НАНОЧАСТИЦ ИЛИ НИТЕВИДНЫХ НАНОКРИСТАЛЛОВ, СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ НЕОРГАНИЧЕСКИХ ФУЛЛЕРЕНОПОДОБНЫХ СТРУКТУР ХАЛЬКОГЕНИДА МЕТАЛЛА, НЕОРГАНИЧЕСКИЕ ФУЛЛЕРЕНОПОДОБНЫЕ СТРУКТУРЫ ХАЛЬКОГЕНИДА МЕТАЛЛА, СТАБИЛЬНАЯ СУСПЕНЗИЯ IF - СТРУКТУР ХАЛЬКОГЕНИДА МЕТАЛЛА, СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК ИЗ IF - СТРУКТУР ХАЛЬКОГЕНИДА МЕТАЛЛА И ТОНКАЯ ПЛЕНКА, ПОЛУЧЕННАЯ ТАКИМ СПОСОБОМ, И НАСАДКА ДЛЯ РАСТРОВОГО МИКРОСКОПА
2019883СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПРОВОДЯЩЕЙ ПОВЕРХНОСТИ
2280853СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАНОРЕЛЬЕФА ПОДЛОЖКИ
2072581СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОПОГРАФИИ ПОВЕРХНОСТИ ВЕЩЕСТВА ПОСРЕДСТВОМ СКАНИРУЮЩЕГО ТУННЕЛЬНОГО МИКРОСКОПА
2219618СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИОННОГО ЛУЧА
2208262СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОГО ЛУЧА
2453946СПОСОБ ТОМОГРАФИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ОБРАЗЦА В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ
Всего позиций: 28        [1-28] 
Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"