|
В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.
Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается).
Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"
Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.
Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".
Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru
| МПК » H » H01 » H01J » H01J037/00 |
|
|
Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки (33/00,40/00,41/00,47/00,49/00 имеют преимущество; методы или устройства сканирующего зонда G 01Q; бесконтактные испытания электронных схем с использованием электронных пучков G 01R 31/305)[2,5]
|
Всего позиций: 38 [1-38]
| Код и наименование раздела справочника МПК |
Патенты |
| H01J037/02 .элементы конструкции | [1] | | H01J037/04 ..электродные и другие связанные с ними устройства для генерирования разряда и управления им, например электронно-оптические устройства, ионно-оптические устройства | [4] | | H01J037/06 ...источники электронов; электронные пушки | [10] | | H01J037/063 ....геометрическое устройство электродов для формирования лучей [3] | [2] | | H01J037/065 ....конструкция электронных пушек или их частей (37/067-37/077 имеют преимущество)[3] | [1] | | H01J037/067 ....замена частей электронных пушек; регулировка положения электродов относительно друг друга (37/073-37/077 имеют преимущество; вакуумные затворы 37/18)[3] | [2] | | H01J037/07 ....устранение вредных эффектов, вызванных действием температуры, электрического или магнитного полей (37/073-37/077 имеют преимущество)[3] | [1] | | H01J037/073 ....электронные пушки с использованием источника электронов с автоэлектронной эмиссией, фотоэмиссией или вторичной эмиссией [3] | [1] | | H01J037/075 ....электронные пушки с использованием термоионной эмиссии с катодов, нагреваемых за счет бомбардировки частицами или облучения, например лазерами [3] | [1] | | H01J037/077 ....электронные пушки с использованием разряда в газах или парах в качестве источников электронов [3] | [15] | | H01J037/08 ...источники ионов; ионные пушки | [21] | | H01J037/09 ...диафрагмы; экраны, связанные с электронно- или ионно-оптическими устройствами; компенсация возмущающих полей [3] | [1] | | H01J037/10 ...линзы | [1] | | H01J037/12 ....электростатические | [4] | | H01J037/14 ....магнитные | [3] | | H01J037/147 ...устройства для направления или отклонения разряда вдоль требуемого пути (линзы 37/10)[2] | [2] | | H01J037/15 ....механическая регулировка извне электронно- или ионно-оптических элементов конструкции (37/067, 37/20 имеют преимущество)[3] | [1] | | H01J037/153 ...электронно-оптические или ионно-оптические устройства для коррекции дефектов изображения, например стигматоры [2] | [1] | | H01J037/18 ..вакуумные затворы | [1] | | H01J037/20 ..устройства для крепления или управления положением объекта или материала; устройства для регулирования диафрагм или линз, конструктивно сопряженных с опорой (подготовка образцов для исследований G 01N 1/28) | [5] | | H01J037/248 ..составные части, связанные с питанием высоким напряжением (устройства питания высоким напряжением вообще H 02J,H 02M)[3] | [2] | | H01J037/252 .приборы для анализирования пятна с помощью электронных или ионных лучей; микроанализаторы (исследование или анализ с использованием вторичной эмиссии G 01N 23/22)[3] | [1] |
Всего позиций: 38 [1-38]
|
Поиск патентов