|
В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.
Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается).
Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"
Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.
Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".
Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru
| МПК » G » G01 » G01N » G01N023/00 |
|
|
Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения (3/00-17/00 имеют преимущество; измерение силы вообще G 01L 1/00; измерение ядерного или рентгеновского излучения G 01T; введение объектов или материалов в ядерные реакторы, извлечение их из ядерных реакторов или хранение их после обработки в ядерных реакторах G 21C; конструкция или принцип действия рентгеновских аппаратов или схемы для них H 05G)
|
Всего позиций: 22 [1-22]
| Код и наименование раздела справочника МПК |
Патенты |
| G01N023/02 .путем пропускания излучений через материал | [31] | | G01N023/04 ..с последующим получением изображения (электронные микроскопы H 01J) | [54] | | G01N023/05 ...с использованием нейтронов [3] | [3] | | G01N023/06 ..с последующим измерением поглощения | [21] | | G01N023/08 ...с помощью электрических средств обнаружения | [15] | | G01N023/083 ....рентгеновского излучения (23/10-23/18 имеют преимущество)[5] | [20] | | G01N023/09 ....нейтронного излучения [3] | [3] | | G01N023/12 ....жидких, газообразных или сыпучих веществ (23/09 имеет преимущество)[3] | [9] | | G01N023/16 ....движущихся листовых материалов (23/09, 23/18 имеют преимущество)[3] | [1] | | G01N023/18 ....обнаружение локальных дефектов или вкраплений (23/09 имеет преимущество)[3,5] | [36] | | G01N023/20 .с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения | [59] | | G01N023/201 ..путем измерения малых углов рассеяния [2] | [8] | | G01N023/203 ..путем измерения обратного рассеяния [2] | [6] | | G01N023/204 ...с использованием нейтронов [3] | [3] | | G01N023/207 ..средствами дифрактометрии с использованием детекторов, например с использованием различающего спектр кристалла или анализируемого кристалла, расположенного в центре, и одного или нескольких детекторов, перемещаемых по окружности (23/201 имеет преимущество; спектрометрия интенсивности индикаторного или измеряемого излучения G 01T 1/36)[2] | [8] | | G01N023/22 .измерением вторичной эмиссии [2] | [23] | | G01N023/221 ..активационным анализом [2] | [9] | | G01N023/222 ...с использованием нейтронов [3] | [33] | | G01N023/223 ..облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции [2] | [65] | | G01N023/225 ..с использованием электронного или ионного микроскопа (трубки с электронным или ионным пучком для микроанализа H 01J 37/00)[2] | [5] | | G01N023/227 ..измерением фотоэлектрического эффекта, например оже-электронов [2] | [4] |
Всего позиций: 22 [1-22]
|
Поиск патентов