|
В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.
Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается).
Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"
Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.
Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".
Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru
| МПК » G » G01 » G01N |
|
|
Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение компонентов материалов вообще B 01D,B 01J,B 03,B 07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B 01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C 12M,C 12Q; исследование грунта основания на месте E 02D 1/00; мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F 01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G 01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание или определение свойств конструкций G 01M; измерение или исследование электрических или магнитных свойств материалов G 01R; системы вообще для определения расстояния, скорости или наличия с использованием эффектов распространения, например эффекта Доплера, измерение времени распространения отраженных или переизлученных радиоволн; аналогичные устройства с использованием других волн G 01S; определение чувствительности, зернистости или плотности фотографических материалов G 03C 5/02; испытание составных частей ядерных реакторов G 21C 17/00)
|
Всего позиций: 22 [1-22]
| Код и наименование раздела справочника МПК |
Патенты |
| G01N001/00 Получение образцов; подготовка образцов для исследования (манипулирование материалами при автоматическом анализе 35/00) | [626] | | G01N003/00 Исследование прочностных свойств твердых материалов путем приложения к ним механических усилий (тензометры G 01B; измерение механических напряжений вообще G 01L 1/00) | [1112] | | G01N005/00 Анализ материалов путем взвешивания, например взвешивание малых частиц, выделенных из газов или жидкостей (9/00 имеет преимущество) | [49] | | G01N007/00 Анализ материалов путем измерения давления или объема газа или паров | [67] | | G01N009/00 Определение плотности или удельного веса материалов; анализ материалов путем определения их плотности или удельного веса (устройства для взвешивания G 01G) | [210] | | G01N011/00 Исследование свойств текучих сред, например определение вязкости, пластичности; анализ материалов путем определения их текучести | [199] | | G01N013/00 Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности; исследование диффузионных эффектов; анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов; исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне (устройства или методы сканирующего зонда G01Q)[1,7] | [100] | | G01N015/00 Исследование свойств частиц; определение проницаемости, пористости или площади поверхности пористых материалов (идентификация микроорганизмов C 12Q)[4] | [318] | | G01N017/00 Исследование устойчивости материалов к атмосферному или световому воздействию, определение антикоррозионных свойств | [145] | | G01N019/00 Исследование материалов механическими способами (3/00-17/00 имеют преимущество) | [139] | | G01N021/00 Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей (3/00-19/00 имеют преимущество; измерение механических напряжений вообще G 01L 1/00; оптические элементы измерительных приборов G 02B; анализ изображений путем обработки данных G 06T) | [1398] | | G01N022/00 Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот (3/00-17/00, 24/00 имеют преимущество)[3] | [194] | | G01N023/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения (3/00-17/00 имеют преимущество; измерение силы вообще G 01L 1/00; измерение ядерного или рентгеновского излучения G 01T; введение объектов или материалов в ядерные реакторы, извлечение их из ядерных реакторов или хранение их после ... | [470] | | G01N024/00 Исследование или анализ материалов с помощью ядерного магнитного резонанса, электронного парамагнитного резонанса или других спин-эффектов (устройства или приборы для измерения эффектов магнитного резонанса G 01R 33/20)[3,4,5] | [155] | | G01N025/00 Исследование или анализ материалов с помощью тепловых средств (3/00-23/00 имеют преимущество) | [545] | | G01N027/00 Исследование или анализ материалов с помощью электрических, электрохимических или магнитных средств (3/00-25/00 имеют преимущество; измерение переменных электрических или магнитных величин и исследование электрических или магнитных свойств материалов G 01R) | [1581] | | G01N029/00 Исследование или анализ материалов с помощью ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых волн; визуализация внутреннего строения объектов путем пропускания через них ультразвуковых или звуковых волн через предметы (3/00-27/00 имеют преимущество; измерение или индикация ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых волн вообще G 01H; системы с использованием эффектов отражения или переизлучения акустич... | [746] | | G01N030/00 Исследование или анализ материалов путем разделения на составные части (компоненты) с использованием адсорбции, абсорбции или подобных процессов или с использованием ионного обмена, например хроматография (3/00-29/00 имеют преимущество; разделение для подготовки или получения составных частей B 01D 15/00, B 01D 53/02,B 01D 53/14)[4] | [487] | | G01N031/00 Исследование или анализ небиологических материалов химическими способами, упомянутыми в подгруппах данной группы (определение эффективности или завершенности процессов стерилизации без использования ферментов или микроорганизмов A 61L 2/28; способы измерения или испытания с использованием ферментов или микроорганизмов C 12Q 1/00); приборы, специально предназначенные для осуществления этих спос... | [388] | | G01N033/00 Исследование или анализ материалов особыми способами, не отнесенными к группам 1/00-31/00 | [6615] | | G01N035/00 Автоматический анализ, не ограниченный методами или материалами, предусмотренными только одной из групп 1/00-33/00; манипулирование материалами при этом [3] | [35] | | G01N037/00 Элементы, не предусмотренные другими группами данного подкласса [3] | [6] |
Всего позиций: 22 [1-22]
|
Поиск патентов