В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.
Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается).
Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"
Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.
Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".
Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru
МПК » G » G01 » G01N » G01N022/00 |
|
Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот (3/00-17/00, 24/00 имеют преимущество)[3]
G01N022/02: .обнаружение локальных дефектов [3]
|
Всего позиций: 16 [1-16]
Всего позиций: 16 [1-16]
|