Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.

Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается). Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"

Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.

Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".




Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru


 МПК » H » H01 » H01L » H01L021/00
Поиск в МПК:   
Способы и устройства, специально предназначенные для изготовления или обработки полупроводниковых приборов или приборов на твердом теле или их частей [2,8]
H01L021/66: .испытания или измерения в процессе изготовления или обработки [2]
Всего позиций: 162        [1-50] [51-100] [101-150] [151-162] 
Публикация Название
2063096СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ КРЕМНИЕВЫХ СЛОЕВ N - ТИПА ПРОВОДИМОСТИ НА ИЗОЛИРУЮЩИХ ПОДЛОЖКАХ
2032237СПОСОБ КОНТРОЛЯ УДЕЛЬНОГО ПОВЕРХНОСТНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ТОНКИХ РЕЗИСТИВНЫХ ПЛЕНОК В ПРОЦЕССЕ ОСАЖДЕНИЯ
2248067СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ТОНКИХ ПОДЗАТВОРНЫХ ПЛЕНОК ДИОКСИДА КРЕМНИЯ
2439745СПОСОБ КУЛОНОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ НАНОСТРУКТУР ТРАНЗИСТОРА n - МОП В ТЕХНОЛОГИЯХ КМОП/КНС И КМОП/КНИ
2263369СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОДЕРЖАНИЯ ВЛАГИ В ПОДКОРПУСНОМ ОБЪЕМЕ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
2284042СПОСОБ ОБЕСПЕЧЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ В ПРОЦЕССЕ СЕРИЙНОГО ПРОИЗВОДСТВА
2433503СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ СКРЫТЫХ ДЕФЕКТОВ КРЕМНИЕВЫХ МОП МУЛЬТИПЛЕКСОРОВ
2415493СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ СКРЫТЫХ ДЕФЕКТОВ МАТРИЧНОГО ИЛИ ЛИНЕЙНОГО КРЕМНИЕВОГО МОП МУЛЬТИПЛЕКСОРА
2388110СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ СКРЫТЫХ ДЕФЕКТОВ МАТРИЧНЫХ ИЛИ ЛИНЕЙНЫХ МОП МУЛЬТИПЛЕКСОРОВ
2474918СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ СКРЫТЫХ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ДЕФЕКТОВ МАТРИЧНЫХ ИЛИ ЛИНЕЙНЫХ КРЕМНИЕВЫХ МОП МУЛЬТИПЛЕКСОРОВ
1559983СПОСОБ ОПЕРАЦИОННОГО КОНТРОЛЯ ИОННО - ЛЕГИРОВАННЫХ СЛОЕВ
2006987СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕРАВНОВЕСНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИНАХ
2216750СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЫСОТЫ ПОТЕНЦИАЛЬНОГО БАРЬЕРА ДИОДА С БАРЬЕРОМ ШОТТКИ
2001466Способ определения диффузионной длины неравновесных носителей заряда
2239913СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДРЕЙФОВОЙ ПОДВИЖНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ
2206143СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ИОНОВ СВИНЦА В МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ФЕРРИТАХ - ГРАНАТАХ
1694018СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ВЫРОЖДЕННЫХ ПОЛУПРОВОДНИКАХ
2094906СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ПОДВИЖНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ
94002787СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ПОДВИЖНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ
2408952СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ДИФФУЗИИ ПРИМЕСНЫХ АТОМОВ В ПОЛУПРОВОДНИКЕ
2061280СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МОЛЯРНОГО ПРОЦЕНТА LiO2 В МОНОКРИСТАЛЛАХ LiNiO3
2022403СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАПРАВЛЕНИЯ ПОЛЯРНОЙ ОСИ В МОНОКРИСТАЛЛАХ
2133999СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ ПЛОСКИХ ЗОН ПОЛУПРОВОДНИКА В МДП - СТРУКТУРАХ
2212078СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ ПЛОСКИХ ЗОН ПОЛУПРОВОДНИКА В МЕТАЛЛ - ДИЭЛЕКТРИК - ПОЛУПРОВОДНИК - СТРУКТУРАХ
2461091СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ В ПОЛУПРОВОДНИКОВОМ МАТЕРИАЛЕ
Всего позиций: 162        [1-50] [51-100] [101-150] [151-162] 
Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"