|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ СТОПЫ |  |
Номер публикации патента: 2031617 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | A43D001/02 | | Аналоги изобретения: | 1. Пашаев Б.С. Применение метода стереофотограмметрии для получения каркаса горизонтальных сечений стопы - изв. высших учебных заведений. "Технология легкой промышленности", 1978, N 5, стр.79-81. |
| Имя заявителя: | Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна | | Изобретатели: | Арисланова А.И.
Комиссаров А.Г.
Данилов Е.Н.
Панкратов П.М. | | Патентообладатели: | Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна |
Реферат | |
Использование: в легкой промышленности, в частности в обувной при бесконтактном измерении поверхности стопы. Сущность изобретения: способ включает проецирование на измеряемую поверхность плоских лучей, направленных под углом к опорной плоскости, лежащим в пределах от 30 до 65°, фотографирование следа этих лучей на измеряемой поверхности с помощью съемочной камеры, оптическая ось которой направлена перпендикулярно к опорной плоскости, на которую нанесена координатная сетка, при освещении стопы, размещенной на оптически контрастной плоскости, рассеянным светом от источника с мощностью, меньшей мощности источника плоских лучей, определение габаритных размеров по границе изображения стопы на опорной плоскости и периметров сечений стопы по фотографии и определение высот сечений по формуле Hij= Ho·(1- Lij/Lio), где i - номер луча; j - номер сечения; Ho - высота источника над опорной плоскостью; Lio - расстояние от следа на опорной плоскости до проекции источника на опорную плоскость; Lij - расстояние от j-го сечения до проекции источника на опорную плоскость. 4 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента