На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ОТРАЖЕНИЯ ИЛИ ИЗЛУЧЕНИЯ ОБЪЕКТА В ЛЮБОЙ ТОЧКЕ ЕГО ТЕЛЕВИЗИОННОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ И ВИДЕОСПЕКТРОМЕТР, РЕАЛИЗУЮЩИЙ ЭТОТ СПОСОБ В РЕАЛЬНОМ ИЛИ УСЛОВНОМ МАСШТАБЕ ВРЕМЕНИ | |
Номер публикации патента: 2140719 | |
Редакция МПК: | 6 | Основные коды МПК: | H04N005/225 H04N017/00 | Аналоги изобретения: | Передовая воздушная гиперспектральная система изображения (AAHIS)фирмы SFTS Technology Inc. Sience Applications International.Corp.-19.08.94. SU 856029 A, 15.08.81. SU 902320 A, 31.01.82. SU 936457 A, 15.06.82. SU 1019670 A, 15.05.83. SU 1078668 A, 07.03.84. |
Имя заявителя: | Московское конструкторское бюро "Электрон" | Изобретатели: | Розвал Я.Б. Разин А.И. Курков И.Н. | Патентообладатели: | Московское конструкторское бюро "Электрон" |
Реферат | |
Изобретение относится к способам измерения спектра отражения в воздушной или космической разведке для экологического мониторинга местности и т.п. Актуальной научно-технической задачей является создание устройства, позволяющего в реальном времени наблюдать изображение местности и одновременно измерять спектр отражения или излучения в отдельных его точках. Для решения упомянутой задачи предложен способ измерения спектральных характеристик отражения или излучения объекта в любой точке его телевизионного изображения и видеоспектрометр, реализующий этот способ в реальном масштабе времени. Изображающим и измерительным устройством одновременно является ПЗС-матрица со схемой управления и набор быстросменяемых нормированных светофильтров, спектральные характеристики пропускания которых выбраны так, чтобы спецвычислитель, включаемый после блока обработки получаемых видеосигналов и снабженный соответствующим пакетом программ, мог в реальном времени вычислять спектральные характеристики отражения или излучения, отдельных элементов изображения или их блоков. Техническим результатом является то, что аппаратная реализация может быть компактной, в десятки раз меньше применяемой ныне по объему и устойчивой к воздействию механических и климатических факторов. 2 с. ф-лы, 2 ил., 1 табл.
|