|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СИСТЕМА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ЭЛЕКТРОННО - ЛУЧЕВЫХ ТРУБОК |  |
Номер публикации патента: 2117410 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | H04N005/225 | | Аналоги изобретения: | SU, авторское свидетельство 489261, кл. H 04 N 5/225, 1976. SU, авторское свидетельство 930476, кл. H 04 N 17/00, 1982. SU, авторское свидетельство 1379942, кл. H 04 N 5/225, 1988. |
| Имя заявителя: | Самсунг Электрон Дивайсиз, Ко., Лтд. (KR) | | Изобретатели: | Санг-Рок Ли (KR)
Ву-Куинг Сим (KR) | | Патентообладатели: | Самсунг Электрон Дивайсиз, Ко., Лтд. (KR) | | Номер конвенционной заявки: | 91-5837 | | Страна приоритета: | KR |
Реферат | |
Изобретение относится к системам для измерения характеристик электронно-лучевых трубок. Цель изобретения - разработка системы для измерения теплового дрейфа для ЭЛТ. Система для измерения характеристик электронно-лучевых трубок содержит: блок камер для приема изображения измеряемой ЭЛТ; видеопроцессор, выполняющий функции преобразования аналогового сигнала в цифровой с последующим хранением во встроенном ЗУ; центральный процессор, управляющий контроллером адресации; контроллер магнитного поля, служащий для управления сдвигом электронных лучей; селектор, служащий для выборки под управлением сигналов с центрального процессора, аналоговых и видеосигналов, характеризующих температурный дрейф, и передачи сигнала с контроллера магнитного поля на отклоняющие катушки видеокамер. 14 з.п. ф-лы. 9 ил., 1 табл.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента