RU 2316784 C1, 10.02.2008. RU 2331082 C2, 10.08.2008. RU 2360378 C1, 27.06.2009. RU 2100904 C1, 27.12.1997. RU 2137150 C1, 10.09.1999. EP 0303371 B1, 10.03.1993. US 2004203908 A1, 31.12.2002. US 7126527 B1, 24.10.2006. US 6167274 A, 26.12.2000.
Имя заявителя:
Закрытое акционерное общество "ИРКОС" (RU)
Изобретатели:
Авдюшин Артем Сергеевич (RU) Козьмин Владимир Алексеевич (RU) Рембовский Юрий Анатольевич (RU) Сладких Владимир Александрович (RU) Уфаев Владимир Анатольевич (RU) Уфаев Денис Владимирович (RU)
Патентообладатели:
Закрытое акционерное общество "ИРКОС" (RU)
Реферат
Способ предназначен для радиоконтроля систем сотовой связи. Достигаемый технический результат - повышение полноты, достоверность и точности радиоконтроля систем сотовой радиосвязи. Указанный результат достигается за счет того, что способ включает прием излученных базовой станцией сигналов и измерение их амплитуд, синхронное измерение собственных координат мобильного комплекса, преобразование результатов измерений в пространственный спектр и определение весовых коэффициентов. Прием и измерение амплитуды сигнала осуществляют от каждого передатчика базовой станции, предварительно определяют диаграмму направленности антенн передатчиков, ширину и угла ориентации которых квантуют в области их неопределенности. Определяют и запоминают квантованные координаты зоны возможного местоположения базовой станции. На основании значений собственных координат мобильного комплекса и квантованных координат зоны возможного местоположения базовой станции определяют расстояние и пеленг, результаты которого используют для расчета диаграмм направленности в направлении на мобильный комплекс из мест возможного положения базовой станции. Определяют весовые коэффициенты и осуществляют преобразование результатов измерений в пространственный спектр для каждой пары квантованных параметров диаграммы антенны. Из полученного множества значений пространственного спектра выделяют максимальное, по координатам которого судят о местоположения базовой станции. 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента