|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЗНАКА НАПРАВЛЕНИЯ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ ОСЕЙ В КВАРЦЕВЫХ ПЬЕЗОЭЛЕМЕНТАХ ДВУХПОВОРОТНОГО Y - СРЕЗА |  |
Номер публикации патента: 1355080 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | H03H003/02 | | Аналоги изобретения: | Авторское свидетельство СССР N 177114, кл. G 02 B 27/28, 1964. Бонд В.Д. Технология кристаллов. М.: Недра, 1980, с.21-22. |
| Имя заявителя: | | | Изобретатели: | Абрамзон И.В.
Дикиджи А.Н |
Реферат | |
Изобретение относится к радиоэлектронике. Целью изобретения является уменьшение брака по нарушению целостности кварцевых пьезоэлементов двухповоротного Y-среза при определении в них знака направления кристаллографических осей. В кварцевом пьезоэлементе возбуждают колебания толщинно-сдвиговой моды С и измеряют резонансную частоту. Прикладывают к нему сжимающие усилия в точках на кристаллографических осях Х' и Z' на краях его главных граней. Направление сжимающих усилий выбирают перпендикулярным главным граням. В процессе приложения сжимающих усилий повторно измеряют резонансную частоту. Знак направления кристаллографических осей Х' и Z' определяют по информативному параметру, которым является изменение резонансной частоты. За положительное направление кристаллографической оси X' и отрицательное направление кристаллографической оси Z' выбирают направление от центра кварцевого пьезоэлемента к точке на соответствующей кристаллографической оси, действие сжимающих усилий в которой вызывает положительные изменения резонансной частоты.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента