| На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину» 
    | ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИДЕНТИФИКАЦИИ ОБРАЗЦА ПО УЧАСТКУ ЕГО ПОВЕРХНОСТИ |  | 
 | Номер публикации патента: 2044399 |  | 
 
| Редакция МПК: | 7 |  | Основные коды МПК: | H02N002/02   H01L041/08 |  | Аналоги изобретения: | 1. J. Heil et al., Imaging of laser generation surfase ripples on silicon, Journal of Uacuum Science and Technologi A6. No. 2, 1988, pp.401 - 403. |  
 
| Имя заявителя: | Квасников Сергей Викторович,Нистратов Виктор Филиппович,Фальковский Игорь Всеволодович |  | Изобретатели: | Квасников Сергей Викторович Нистратов Виктор Филиппович
 Фальковский Игорь Всеволодович
 |  | Патентообладатели: | Квасников Сергей Викторович Нистратов Виктор Филиппович
 Фальковский Игорь Всеволодович
 |  
 | Реферат |  | 
 Использование: в устройствах металлографического анализа и системах защиты, действующих по принципу ключ-замок. Сущность изобретения: пьезоэлектрическое устройство для идентификации образца по участку его поверхности содержит пьезоэлектрическое устройство сканирования поверхности образца, держатель образца и устройства управления и обработки информации. 
 |