Зверьков М.В. и др. Двойные интегральные наноструктуры для импульсных лазерных диодов, излучающих на длине волны 0,9 мкм. Квантовая электроника, т.38, 11, 2008, с.989-992. RU 2351047 C2, 27.03.2009. RU 2278455 C1, 20.06.2006. RU 2197049 C1, 20.01.2003. WO 0167567 A2, 13.09.2001. FR 2761537 A1, 02.10.1998. US 4063189 A, 13.12.1977.
Имя заявителя:
Учреждение Российской академии наук Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН (RU)
Изобретатели:
Тарасов Илья Сергеевич (RU) Арсентьев Иван Никитич (RU) Винокуров Дмитрий Анатольевич (RU) Пихтин Никита Александрович (RU) Симаков Владимир Александрович (RU) Коняев Вадим Павлович (RU) Мармалюк Александр Анатольевич (RU) Ладугин Максим Анатольевич (RU)
Патентообладатели:
Учреждение Российской академии наук Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН (RU)
Реферат
Изобретение относится к полупроводниковой технике, квантовой оптоэлектронике и может быть использовано для разработки мощных когерентных импульсных источников излучения на основе эпитаксиально-интегрированных гетероструктур. Сущность изобретения: туннельно-связанная полупроводниковая гетероструктура включает подложку (1) GaAs n-типа проводимости, на которую последовательно нанесены буферный слой (2) GaAs n-типа проводимости, по меньшей мере две лазерные диодные структуры (3), разделенные туннельным переходом (4), и контактный слой (5) GaAs p+-типа проводимости. Каждая лазерная диодная структура (3) содержит первый широкозонный эмиттерный слой (6) AlGaAs n-типа проводимости, широкий волновод (7) GaAs, в центре которого расположена узкозонная квантоворазмерная активная область (8) InGaAs и второй широкозонный эмиттерный слой (9) AlGaAs p-типа проводимости. Туннельный переход (4) содержит слой (10) GaAs p+-типа проводимости, нелегированный квантоворазмерный сплошной слой (11) GaAs толщиной 40-50 ангстрем и слой (12) GaAs n-типа проводимости. Использование гетероструктуры позволяет увеличить мощность изготовленного на ее основе прибора и срок его службы. 3 з.п. ф-лы, 4 ил.