|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ПОДВИЖНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ |  |
Номер публикации патента: 94002787 |  |
| Вид документа: | A1 | | Страна публикации: | RU | | Рег. номер заявки: | 94002787 |
|
|
|
| Имя заявителя: | Дехтяр Ю.Д. (LV) | | Изобретатели: | Дехтяр Ю.Д.[LV]
Носков В.А.[LV]
Шнирман М.Б.[R |
Реферат | |
Изобретение относится к полупроводниковому материаловедению и может быть использовано для определения электрофизических свойств полупроводниковых материалов. Сущность изобретения: вакуумируют образец, определяют зависимость тока экзоэлектронной эмиссии от температуры при медленном нагреве образца и УФ обработке поверхности. Медленно охлаждают образец до исходной температуры. Повторно определяют зависимость экзоэлектронной эмиссии от температуры при тех же условиях и дополнительной ИК обработке поверхности с известной плотностью светового потока. Сравнивают две зависимости. Определяют температуру, при которой зависимости совпадают. С учетом этой температуры и плотности потока рассчитывают искомый параметр.
|
Поиск патентов