RU 2364983 C1, 20.08.2009. RU 2285253 C1, 10.10.2006. RU 2217840 C1, 27.11.2003. US 7521672 B2, 21.04.2009. WO 2006/118595 А2, 09.11.2006. WO 2005/029003 A2, 31.03.2005. WO 03/023839 A1, 20.03.2003.
Имя заявителя:
Российская Федерация от имени которой выступает Министерство образования и науки Российской Федерации (RU), Общество с ограниченной ответственностью "Новые энергетические технологии" (RU)
Изобретатели:
Гречников Александр Анатольевич (RU) Алимпиев Сергей Сергеевич (RU) Никифоров Сергей Михайлович (RU) Симановский Ярослав Олегович (RU)
Патентообладатели:
Российская Федерация от имени которой выступает Министерство образования и науки Российской Федерации (RU) Общество с ограниченной ответственностью "Новые энергетические технологии" (RU)
Реферат
Изобретение относится к способам создания подложек, применимых в качестве эмиттеров ионов химических соединений в аналитических приборах, предназначенных для определения состава и количества химических соединений в аналитических приборах, в частности в масс-спектрометрах и спектрометрах ионной подвижности. Сущность изобретения: в способе формирования эмиттера ионов для лазерной десорбции-ионизации химических соединений путем обработки полупроводниковых материалов последнюю осуществляют путем воздействия на поверхность полупроводникового материала потоком импульсного лазерного излучения с интенсивностью, большей порога плавления используемого материала, обеспечивающей при этом плавление материала на глубину не менее 5 нм, обработанный полупроводниковый материал подвергают повторному воздействию электромагнитного излучения с интенсивностью, меньшей порога плавления используемого материала, в присутствии паров протонодонорного реагента. Изобретение обеспечивает увеличение точности анализа и снижение пределов обнаружения определяемых соединений, а также возможность многократного использования сформированного эмиттера ионов. 7 з.п. ф-лы, 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента