Технические условия БУТИ.432234.047ТУ, Устройство фотоприемное матричное охлаждаемое, 2006 г. ГОСТ 21493-76. Изделия электронной техники. Требования по сохраняемости и методы испытания. 1977. Бурлаков И.Д. и др. Методы ускоренных испытаний надежности матричных фотоприемников. Прикладная физика. Научно-технический журнал. - М.: 2009, 4.Пономаренко В.П. и др. Сохраняемость параметров вакуумных фоторезисторов на основе CdHgTe. Прикладная физика. Научно-технический журнал. - М.: 2007, 5.
Имя заявителя:
Федеральное государственное унитарное предприятие "НПО "Орион" (RU)
Изобретатели:
Бурлаков Игорь Дмитриевич (RU) Болтарь Константин Олегович (RU) Патрашин Александр Иванович (RU) Яковлева Наталья Ивановна (RU) Дегтярев Евгений Иванович (RU) Солодков Алексей Аркадьевич (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное унитарное предприятие "НПО "Орион" (RU)
Реферат
Изобретение относится к испытаниям сохраняемости инфракрасного (ИК) многоэлементного фотоприемного устройства (МФПУ), содержащего клеевые соединения в вакуумированной полости, с рабочей температурой фоточувствительных элементов ниже температуры окружающей среды, предназначенного для регистрации ИК-излучения. Сущность изобретения: для проведения испытания задают количество циклов хранения, включающих выдержку выключенного устройства в течение заданного промежутка времени. Длительность одного цикла (tцикла) задают как сумму первого (t1) и второго (t2) промежутков времени. В течение t1 выдерживают устройство при первой температуре (T1). В течение t2 выдерживают устройство в условиях термоциклирования между второй (Т2) и третьей (Т3) температурами. При этом T1 и T2 превышают заданную температуру внешней среды (Тo), но не превышают повышенную рабочую температуру среды (Тпов.раб.ср). Т3 не ниже пониженной рабочей температуры среды (Тпов.раб.ср). Проводят геттерирование вакуумированной полости. Измеряют при нормальных климатических условиях (НКУ) теплоприток включенного устройства или время выхода его на режим и, по крайней мере, один фотоэлектрический параметр. Заявленный способ позволяет сократить время испытания МФПУ. 5 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента