На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО СВЕТОИЗЛУЧАЮЩЕГО ЭЛЕМЕНТА | |
Номер публикации патента: 2146842 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | H01L021/223 H01L021/302 | Аналоги изобретения: | GB 2168194, 11.06.1986. GB 2021307, 28.11.1979. US 4287660, 08.09.1981. SU 1831213, 22.08.1990. |
Имя заявителя: | Государственное унитарное научно-производственное предприятие "ИНЖЕКТ" | Изобретатели: | Микаелян Г.Т. Гордеева М.В. | Патентообладатели: | Микаелян Геворк Татевосович |
Реферат | |
Изобретение относится к полупроводниковой электронике и может быть использовано в производстве полупроводниковых лазерных диодов и светодиодов. Для упрощения технологических процессов при изготовлении полупроводникового светоизлучающего элемента при обеспечения его долговечности и снижении себестоимости в известном способе изготовления полупроводникового светоизлучающего элемента, включающем выращивание на полупроводниковой подложке эпитаксиальной структуры, нанесение на структуру маски, травление в маске окна, проведение диффузии легирующих примесей в структуру через окно в маске, снятие маски, нанесение контактов, скалывание пластин на кристаллы, посадку кристалла на теплоотвод, в качестве маски на эпитаксиальную структуру наносят дополнительный полупроводниковый слой из материала, обладающего способностью к селективному травлению, толщиной, определяемой из условия d2>d1·(v2/v1), где d1 - суммарная толщина эпитаксиальных слоев, через которые необходимо провести диффузию легирующих примесей; d2 - толщина дополнительного полупроводникового слоя; v1 - средняя скорость диффузии легирующих примесей в эпитаксиальных слоях структуры; v2 - средняя скорость диффузии легирующих примесей в дополнительном полупроводниковом слое.
|