На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ МАСС - СПЕКТРОМЕТР | |
Номер публикации патента: 95102394 | |
Вид документа: | A1 | Страна публикации: | RU | Рег. номер заявки: | 95102394 |
|
|
|
Имя заявителя: | Научно-производственное широкопрофильное предприятие "Пентапорт" | Изобретатели: | Сысоев А.А.[RU] Пятахин В.И.[RU] Метальников П.С.[RU] Иванов В.П.[RU] Сысоев А.А.[RU] Халмош Имре Дюла[HU] Барот Иштван[HU] Реннер Я |
Реферат | |
Изобретение относится к области аналитического приборостроения, в частности к времяпролетным масс-спектрометрам, и может быть использовано для масс-спектрометрического анализа веществ. Цель изобретения - повышение разрешающей способности и относительной чувствительности масс-спектрометра. Времяпролетный масс-спектрометр содержит источник ионов 1, детектор 2, электростатический аксиально-симметричный анализатор 3, состоящий из боковых электродов 4, выполненных в виде двух коаксиальных цилиндров, в верхней и нижней частях которых выполнены секторные вырезы 5 и 6 для входа и выхода ионов, источник питания 7, диафрагму 8 с окном 9 и проводящими полосами 10. Источник ионов 1 формирует ионные пакеты, поступающие в анализатор 3 через вырез 5. При движении между боковыми электродами 4 ионный пакет разделяется на отдельные пакеты ионов в соответствии с их массовыми числами. В процессе движения происходит компенсация временной аберрации первого порядка по энергиям. При прохождении ионов через окно 9 диафрагмы 8 за счет разделения по энергиям ионы с большим энергетическим разбросом оседают на ней, что ограничивает энергетический разброс и обеспечивает снижение аберрации второго порядка. Диафрагма выполнена в виде пластины из изолятора, имеет окно 9, центр которого расположен в центре диафрагмы. Полосы на пластине диафрагмы нанесены параллельно оси симметрии анализатора. Длительность ионного пакета в плоскости детектора определяется хроматической аберрацией второго порядка и за счет вырезки диафрагмой увеличивается разрешающая способность масс-спектрометра, а за счет исключения фона рассеянных ионов повышается относительная чувствительность масс-спектрометра.
|