|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| МАСС - СПЕКТРОМЕТР ДЛЯ ГАЗОВОГО АНАЛИЗА |  |
Номер публикации патента: 2103763 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | H01J049/26 H01J049/00 | | Аналоги изобретения: | 1. Малыгин Н.А. и др. Масс-спектрометрические исследования газов акваторий. В кн. "Геофизические методы исследований Мирового океана". - Л.: 1979, с.156-169. 2. Малыгин Н.А. и др. Исследования водорастворенных газов Каспийского моря методом масс-спектрометрии. В кн. "Комплексные геохимические нефтегазопоисковые исследования субаквальных площадей". - Л.: 1985, с.38 - 51. 3. Масс-спектрометр МХ-7304А. Рекламный проспект Сумского ПО "Электрон". - Сумы: Облполиграфиздат, 1989. 4. Радиочастотный масс-спектрометр МХ-6202. Рекламный проспект СКБ АП АН СССР. - Л.: 1969 (Модификация МХ-6203, Рекламный проспект Сумского ПО "Электрон". - Внешторгиздат. 1989). 5. Селиванов М.Н. Качество измерений. - Лениздат, 1987, с.63. 6. Розанов Л.Н. Вакуумная техника. - М.: Высшая школа, 1990, с.79, 57, 62, 66 и 243. |
| Имя заявителя: | Товарищество с ограниченной ответственностью "Меттек" | | Изобретатели: | Козловский А.В. | | Патентообладатели: | Товарищество с ограниченной ответственностью "Меттек" |
Реферат | |
Использование: в приборостроении, в частности в массо-спектрометрии, и может быть использовано в металлургии, экологии, медицине и других областях науки, техники и в производстве, где имеют место процессы, связанные с газовыделением. Сущность изобретения: в масс-спектрометре, включающем камеру масс-анализатора с источником ионизации, источником ионов и детектором, систему напуска газа и систему безмасляной откачки, источник ионов помещен в отдельную камеру, соединенную с системой напуска газа, имеющую входное окно для ионизирующего потока и узел для выхода ионов, выполненный в виде не более двух окон и/или патрубков, причем их размеры удовлетворяют соотношениям: A1@оп = A2@оп = Aоп ≥ Aои, , UИ(x) = SН(x)N, Iа/VИ, где A1@оп, A2@оп , AОИ - площадь сечения окон или поперечного сечения патрубков камеры источника ионов и выходного окна источника ионов соответственно, UИ(x) - пропускная способность узлов камеры источника ионов по газу x, SН(x) - скорость откачки насоса системы откачки по газу x, N - коэффициент повышения достоверности анализа, Vа - объем камеры масс-анализатора, VИ - объем камеры источника ионов. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента