|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| Способ определения поверхностной концентрации компонентов бинарного сплава методом термодесорбционной масс - спектрометрии |  |
Номер публикации патента: 2000625 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | H01J049/14 H01J049/26 | | Аналоги изобретения: | Устинов Ю.К. железа на вольфраме. №4, с. 1035-1941. Черепин В.Т., Васильев М.А. Методы и приборы для анализа поверхности материалов. - Киев: Наук, думка, 1982, с.400. |
| Имя заявителя: | Пастухов Дмитрий Валентинович,Вяткин Герман Платонович,Привалова Татьяна Павловна,Головин Александр Николаевич | | Изобретатели: | Пастухов Дмитрий Валентинович
Вяткин Герман Платонович
Привалова Татьяна Павловна
Головин Александр Николаевич | | Патентообладатели: | Пастухов Дмитрий Валентинович
Вяткин Герман Платонович
Привалова Татьяна Павловна
Головин Александр Николаевич |
Реферат | |
Использование: в масс-спектрометрии, в частности при анализе поверхности методом термической десорбции. Сущность изобретения: исследуемым сплавом в жидком состоянии заполняют пористый держатель, затем сплав охлаждают до кристаллизации, после чего нагревают до температуры выше температуры плавления, регистрируя при этом температуру нагрева и с помощью массспектрометра величины парциальных потоков десорбции компонентов сплава.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента