|
В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.
Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается).
Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"
Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.
Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".
Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru
| МПК » H » H01 » H01J » H01J049/00 |
|
|
Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки (для измерения давления газа 41/10)[3]
|
Всего позиций: 20 [1-20]
| Код и наименование раздела справочника МПК |
Патенты |
| H01J049/02 .конструктивные элементы [3] | [2] | | H01J049/04 ..устройства для введения и выведения анализируемых образцов, например вакуумные затворы; устройства для регулирования снаружи электронно- или ионно-оптических компонентов [3] | [3] | | H01J049/06 ..электронно- или ионно-оптические приборы (49/04 имеет преимущество)[3] | [1] | | H01J049/08 ..источники электронов, например для генерирования фотоэлектронов, вторичных электронов или электронов Оже [3] | [4] | | H01J049/14 ...с использованием бомбардировки частицами, например ионизационные камеры [3] | [4] | | H01J049/16 ...с использованием поверхностной ионизации, например холодная эмиссия, термоионная эмиссия или фотоэмиссия [3] | [3] | | H01J049/20 ..магнитное отклонение [3] | [1] | | H01J049/22 ..электростатическое отклонение [3] | [4] | | H01J049/26 .масс-спектрометры или разделительные трубки (разделение изотопов с использованием таких трубок B 01D 59/44;масс-спектрометры, специально предназначенные для колоночной хроматографии G 01N 30/72)[3] | [38] | | H01J049/28 ..статические спектрометры [3] | [2] | | H01J049/30 ...с использованием магнитных анализаторов [3] | [3] | | H01J049/32 ...с использованием двойной фокусировки [3] | [2] | | H01J049/34 ..динамические спектрометры [3] | [1] | | H01J049/38 ....омегатроны [3] | [1] | | H01J049/40 ...спектрометры, работающие по принципу измерения времени полета ионов (49/36 имеет преимущество)[3] | [31] | | H01J049/42 ...спектрометры с постоянной траекторией, например однополюсные, четырехполюсные, многополюсные, индикаторы парциального давления [3] | [25] | | H01J049/44 .спектрометры по энергии, например альфа-, бета-спектрометры [3] | [6] | | H01J049/48 ...с использованием электростатических анализаторов, например цилиндрических секторов, фильтров Вьена [3] | [9] |
Всего позиций: 20 [1-20]
|
Поиск патентов