|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ КОНТРОЛЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ БЛОКА ФОТОЭЛЕМЕНТОВ |  |
Номер публикации патента: 2054636 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01J001/42 H01J040/12 | | Аналоги изобретения: | Патент США N 3630627, кл. G 01J 1/42, H 01J 39/12, 27.02.70. |
| Имя заявителя: | Производственное объединение "Новосибирский приборостроительный завод" | | Изобретатели: | Хейфец М.Л.
Комаров В.В. | | Патентообладатели: | Производственное объединение "Новосибирский приборостроительный завод" |
Реферат | |
Использование: в электронике для испытания целостности блоков фотоэлементов. Сущность изобретения: с целью оценки качества отдельных фотоэлементов подают освещение на активную поверхность всех элементов, затем размещают элемент дифференциального освещения между источником освещения и активной поверхностью элементов, сканируют активную поверхность элементов, измеряют выходное напряжение, убирают освещение, подают напряжение смещения на каждый контролируемый фотоэлемент и измеряют темновой ток, воз
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента