S.H.Bauer, K.Kimura, //1961. J. Phys. Soc. Japan, 17, Supplement В 11, р.300. SU 1705914 A1, 15.01.1992. SU 437147 A1, 25.07.1974. JP 5296947 А, 12.11.1993.
Имя заявителя:
Государственное учебно-научное учреждение Химический факультет Московского Государственного Университета имени М.В. Ломоносова (RU), Иванов Аркадий Александрович (RU)
Изобретатели:
Иванов Аркадий Александрович (RU)
Патентообладатели:
Государственное учебно-научное учреждение Химический факультет Московского Государственного Университета имени М.В. Ломоносова (RU) Иванов Аркадий Александрович (RU)
Реферат
Изобретение относится к области физических методов определения строения свободных молекул, основанных на геометрической теории дифракции монохроматического пучка быстрых электронов на "точечном" объеме молекул исследуемого вещества, а также может быть использовано для определения строения короткоживущих радикалов, кластеров и исследования молекулярных и ионных пучков. Устройство для определения строения молекулы электронографическим методом, формирующее область дифракции, включает испаритель с камерой для исследуемого вещества со щелью для выхода пара с возможностью формирования электронного пучка в виде конуса. Камера и щель выполнены кольцевыми. При этом испаритель установлен с возможностью прохождения электронного пучка по центру кольцевой щели перпендикулярно его плоскости. Способ эксплуатации устройства для определения строения молекул заключается в нагревании вещества до температуры, обеспечивающей превышение длины свободного пути молекул по сравнению с размерами камеры испарителя. 2 н. и 1 з.п. ф-лы, 2 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента