На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ВИЗУАЛИЗАЦИИ НА ЭКРАНЕ ИЗОБРАЖЕНИЙ ИССЛЕДУЕМЫХ ОБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕАЛИЗАЦИИ СПОСОБА | |
Номер публикации патента: 2101800 | |
Редакция МПК: | 6 | Основные коды МПК: | H01J037/285 H01J031/50 | Аналоги изобретения: | Лейзеганг З. Электронная микроскопия. - М., 1960, с. 97. FR, патент, 2699004, кл. H 01 J 31/50, 1992. |
Имя заявителя: | Троицкий институт инновационных и термоядерных исследований | Изобретатели: | Маркин А.И. Утюгов Е.Г. Черковец В.Е. | Патентообладатели: | Троицкий институт инновационных и термоядерных исследований |
Реферат | |
Назначение: электронная техника. Сущность изобретения: способ визуализации на экране изображений исследуемых объектов, эмитирующих заряженные частицы, при котором ограничивают поперечное смещение частиц путем создания магнитного поля вдоль пути продвижения частиц от исследуемого объекта к экрану. Магнитное поле формируют равномерно убывающим от места размещения объекта в направлении к экрану с соблюдением выполнения условия адиабатической инвариантности движения заряженных частиц в магнитном поле. Магнитный эмиссионный микроскоп содержит полую многовитковую катушку для создания магнитного поля, элемент для крепления исследуемого объекта и экран, катушка выполнена с убывающим количеством витков в соответствии с расчетной закономерностью, обеспечивающей создание траекторий магнитных силовых линий в виде расходящихся относительно оси прямых, полость внутри катушки имеет конусообразную форму и в ней установлена вакуумная камера в виде усеченного конуса, элемент для крепления исследуемого объекта расположен у основания камеры, имеющего меньшее сечение, а экран установлен у основания камеры с большим сечением. Изобретение позволяет осуществлять увеличение изображений исследуемых объектов одновременно с улучшением разрешающей способности, а также получать структуру объекта по глубине. 2 с. и 3 з.п. ф-лы, 2 ил.
|