На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ПРОВОДЯЩИХ ОБРАЗЦОВ | |
Номер публикации патента: 2077091 | |
Редакция МПК: | 6 | Основные коды МПК: | H01J037/285 | Аналоги изобретения: | 1. Патент США N 5036196, кл. H 01 J 37/00, 1991. 2. Патент США N 4877957, кл. H 01 J 37/26, 1989. 3. Авторское свидетельство СССР N 1471232, кл. H 01 J 37/26, 1989. 4. Электронная промышленность.- 1991, N 3, с.33 - 36. |
Имя заявителя: | Московский институт электронной техники | Изобретатели: | Неволин В.К. Чаплыгин Ю.А. Лосев В.В. | Патентообладатели: | Московский институт электронной техники |
Реферат | |
Использование: изобретение относится к технике измерений и может быть использовано в исследовательских и технологических установках для контроля рельефа поверхности образцов и локального воздействия на них. Сущность изобретения: устройство содержит жесткозакрепленный на цилиндрическом держателе пьезоманипулятор с измерительной иглой, верхняя часть которого через упругий элемент прикреплена к неподвижной опоре, а нижняя - жестко связана с лыжами, установленными на исследуемой поверхности, образуя с ней пару скольжения, а образец закреплен на узле перемещения в виде насаженного на вал диска, и приспособление для подвода образца к измерительной игле. При этом рабочие поверхности пары скольжения выполнены с шероховатостью Rr≅0,05 мкм, а l≅0,1 rk, где rk - наибольший линейный размер области касания лых с поверхностью образца, rk - наименьший из радиусов кривизны поверхности образца. Такая конструкция обеспечивает работоспособность устройства в 4-х режимах, т.е. обладает более широкими функциональными возможностями, позволяя производить измерения и исследования поверхности движущегося образца по всей его поверхности и не ограничивать его размеры. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.
|