На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ИОННО - ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ | |
Номер публикации патента: 2010391 | |
Имя заявителя: | Институт электроники им.У.А.Арифова АН Республики Узбекистан | Изобретатели: | Белых С.Ф. Евтухов Р.Н. Луткова Л.В. Лысенко Ю.Н. Расулев У.Х. Редина И.В. | Патентообладатели: | Институт электроники им.У.А.Арифова АН Республики Узбекистан |
Реферат | |
Изобретение позволяет повысить чувствительность, точность и информативность способа за счет прямого измерения кардинальных элементов и аберрационных характеристик ионно-оптических систем (ИОС). Сущность изобретения. Через исследуемую ИОС пропускают зондирующий пучок долгоживущих возбужденных ионов, испускающих оптические излучения с диаметром d поперечного сечения, более чем на порядок меньшим диаметра D апертуры ИОС.
|