|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЗАРЯДОВОГО И МАССОВОГО СОСТАВОВ ИОНОВ ПЛАЗМЫ |  |
Номер публикации патента: 2314594 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | H01J049/40 | | Аналоги изобретения: | RU 2266587 C1, 20.12.2005. RU 2059982 C1, 10.05.1996. SU 1758705 A1, 30.08.1992. ЕР 1505631 A3, 09.02.2005. US 2004195501 A1, 10.07.2004. |
| Имя заявителя: | Федеральное государственное научное учреждение "Научно-исследовательский институт ядерной физики" (RU) | | Изобретатели: | Рябчиков Александр Ильич (RU)
Рябчиков Игорь Александрович (RU)
Степанов Игорь Борисович (RU)
Еремин Станислав Евгеньевич (RU) | | Патентообладатели: | Федеральное государственное научное учреждение "Научно-исследовательский институт ядерной физики" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области спектрометрии заряженных частиц и может быть использовано для измерения зарядового и массового состава плазмы. Способ реализуется путем погружения трубы дрейфа в плазму, последующего ускорения ионов за счет подачи на трубу дрейфа импульса напряжения отрицательной полярности длительностью, меньшей времени пролета в трубе дрейфа ускоренных ионов анализируемой плазмы с наибольшим соотношением Z/Mi, где Z - зарядность ионов в плазме, Мi - масса ионов, последующего разд
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента