SU 1158951 А, 30.05.1985. JP 62063844 А, 20.03.1987. DE 3732803 A1, 06.04.1989.
Имя заявителя:
Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный научный центр Российской Федерации Институт теоретической и экспериментальной физики им. А.И. Алиханова" (RU)
Изобретатели:
Алпатов Владилен Григорьевич (умер) Баюков Юрий Денисович (RU) Давыдов Андрей Владимирович (RU) Исаев Юрий Николаевич (RU) Карташов Гавриил Романович (RU) Коротков Марк Михайлович (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный научный центр Российской Федерации Институт теоретической и экспериментальной физики им. А.И. Алиханова" (RU)
Реферат
Изобретение относится к области ядерной техники, более конкретно к устройствам для измерения формы микроспектра гамма-излучения, испускаемого при распаде долгоживущих изомерных состояний ядер, таких как изомерное состояние ядра, 109Ag с энергией 88,03 кэВ и средним временем жизни 57 с. В устройстве для измерения формы гамма-резонанса долгоживущих ядерных изомеров пучки гамма-квантов от источника направлены в детекторы параллельно плоскости платформы. Источник помещен в криостат, выдерживается при обеспечивающей мессбауэровские условия температуре и выполнен в виде металлической пластинки из атомов, ядра которых имеют исследуемое изомерное состояние, с введенными в него атомами материнского нуклида. На платформе установлены криостат и детекторы. В зависимости от угла наклона пучков относительно горизонтальной плоскости измеряются интенсивности гамма-линий основного и вспомогательного нерезонансного гамма-источников. Наклон осуществляется путем поворота платформы. В каждой угловой позиции измерения могут быть проведены при естественном направлении магнитного поля Земли и при скомпенсированной дополнительным магнитным полем составляющей земного магнитного поля, перпендикулярной направлению регистрируемых гамма-пучков. Для компенсации поля Земли служит пара колец Гельмгольца, расположенная коаксиально криостату. Изобретение позволяет повысить разрешающую способность мессбауэровских спектрометров. 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента