|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СКАНИРУЮЩИЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОСКОП С ЛИНЕЙЧАТЫМ РАСТРОМ |  |
Номер публикации патента: 2014651 |  |
| Имя заявителя: | Научно-исследовательский институт прикладных физических проблем им.А.Н.Севченко | | Изобретатели: | Дудчик Ю.И.
Борец А.А.
Комаров Ф.Ф.
Константинов Я.А.
Кумахов М.А.
Лобоцкий Д.Г.
Медведев В.П.
Соловьев В.С.
Тишков В.С.
Федоренко Г.Н. | | Патентообладатели: | Научно-исследовательский институт прикладных физических проблем им.А.Н.Севченко |
Реферат | |
Использование: просвечивание объектов, содержащих субмикронные неоднородности. Сущность изобретения: сканирующий рентгеновский микроскоп с линейчатым растром содержит источник электронов, устройство фокусировки и отклонения электронного луча, тонкопленочную мишень, направляющую рентгеновское излучение структуру, систему детектирования рентгеновского излучения, Новым в микроскопе является то, что направляющая рентгеновское излучение структура выполнена последовательным нанесением пропускающих и о
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента