ЦЫКАНОВ В.А., САМСОНОВ Б.В. Техника облучения материалов в реакторах с высоким нейтронным потоком. - М.: Атомиздат, 1973, с.139. RU 93013102 А, 20.07.1995. SU 149244 А, 01.01.1962. FR 2153522 А5, 04.05.1973. FR 2106643 А5, 05.05.1972.
Имя заявителя:
Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный научный центр Российской Федерации - Физико-энергетический институт имени А.И. Лейпунского" (RU)
Изобретатели:
Попов Вячеслав Васильевич (RU) Попов Юрий Васильевич (RU) Певчих Юрий Михайлович (RU) Рябый Вадим Михайлович (RU) Скворцов Александр Семенович (RU) Ковров Александр Петрович (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный научный центр Российской Федерации - Физико-энергетический институт имени А.И. Лейпунского" (RU)
Реферат
Изобретение относится к области исследования прочностных характеристик материалов. Способ испытания трубчатых образцов на длительную прочность в неинструментованном канале ядерного реактора включает следующие операции. В нагревательную печь помещают, по меньшей мере, один контрольный трубчатый образец, нагруженный давлением инертного газа, выдерживают его при заданной температуре в нагревательной печи до его разрушения и измеряют время до момента его разрушения. В ампулу одновременно помещают по одному трубчатому образцу, соответственно нагруженному и ненагруженному давлением инертного газа. Герметичную ампулу с обоими типами трубчатых образцов облучают в канале ядерного реактора. Облученные трубчатые образцы помещают в нагревательную печь и испытывают их до разрушения при тождественных реакторным давлениях и температурах. Измеряют время до момента разрушения трубчатых образцов первого и второго типов в нагревательной печи. Время до момента разрушения трубчатого образца в условиях реакторного облучения при заданных давлении и температуре определяют по соотношению, учитывающему измеренные в процессе осуществления способа времена. Изобретение позволяет повысить точность определения прочностных характеристик материалов. 1 з.п. ф-лы.
Поиск патентов
Получить полное описание патента