Белозеров В.Г. и др. Широкодиапазонная камера деления для СУЗ ядерных реакторов. Атомная энергия, 1979, т.47, вып.4, с.271, 272. RU 2339975 С1, 27.11.2008. RU 2223519 C1, 10.02.2004. WO 2010076538 A1, 08.07.2010. CA 20042456284 A, 26.01.2004.
Имя заявителя:
Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова" (RU)
Изобретатели:
Дашук Сергей Павлович (RU) Борисов Валерий Фёдорович (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова" (RU)
Реферат
Изобретение относится к области исследования и контроля работы ядерных реакторных установок, а именно к исследованию и контролю нейтронного излучения в присутствии гамма-излучения, и может быть использовано в системах управления и защиты ядерных реакторов, критической сборки и других источников нейтронов. Способ включает формирование выходного тока ионизационной камеры деления (ИКД) и противотока, равного по величине части прямого тока, формируемой основными электродами ИКД под воздействием гамма-излучения реактора и конструкционных материалов ИКД. На входе размещенного за пределами ИКД измерительного устройства формируют дополнительный противоток. Формируют базу данных ложного выходного тока ИКД, содержащую зависимости ложного выходного тока от времени после останова реактора. Перед повторным пуском реактора выбирают из сформированной базы временную зависимость изменения ложного выходного тока с учетом флюенса и времени стоянки реактора после останова. В момент повторного пуска формируют на входе измерительного устройства дополнительный противоток, суммируют его с выходным током ИКД и регистрируют суммарный сигнал. Технический результат - расширение динамического диапазона системы контроля реактора, повышение безопасности его эксплуатации, сокращение времени после остановки реактора, в течение которого повторный пуск реактора недопустим по причине неадекватной работы аппаратуры контроля при малой загрузке. 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента