|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОДКРИТИЧНОСТИ ОСТАНОВЛЕННОЙ ЯДЕРНОЙ УСТАНОВКИ БЕЗ ВЫХОДА В КРИТИЧЕСКОЕ СОСТОЯНИЕ |  |
Номер публикации патента: 2362222 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G21C017/104 | | Аналоги изобретения: | RU 2231145 С2, 20.06.2004. RU 2302676 C1, 10.07.2007. RU 2218615 C2, 10.12.2003. EP 0138542 A1, 24.04.1985. JP 2002202395 A, 19.07.2002. |
| Имя заявителя: | ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ РОССИЙСКИЙ НАУЧНЫЙ ЦЕНТР "КУРЧАТОВСКИЙ ИНСТИТУТ" (RU) | | Изобретатели: | Лебедев Геннадий Васильевич (RU) | | Патентообладатели: | ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ РОССИЙСКИЙ НАУЧНЫЙ ЦЕНТР "КУРЧАТОВСКИЙ ИНСТИТУТ" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к физике ядерных реакторов, а именно к обеспечению ядерной безопасности при эксплуатации ядерных установок (ЯУ) - ядерных реакторов и критических сборок ЯУ. Способ определения подкритичности остановленной ЯУ без выхода в критическое состояние заключается в том, что измеряют во времени скорости счета v(t) от ЯУ детекторами нейтронов до, во время и после внесения возмущения потока нейтронов, излучаемого ЯУ, и рассчитывают подкритичность ЯУ.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента