|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ И УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ И ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ВНУТРИ ЯДЕРНЫХ И ТЕРМОЯДЕРНЫХ УСТАНОВОК |  |
Номер публикации патента: 2169954 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G21C017/01 H01J037/26 | | Аналоги изобретения: | SU 357854 A, 28.11.1972. SU 714544 A, 05.02.1980. RU 2040052 С1, 20.07.1995. RU 2072581 C1, 27.01.1997. FR 2513798 Al, 01.04.1983. US 4169758 A, 02.10.1979. DE 4107605 С1, 02.04.1992. КОЗОДАЕВ М.А. и др. Анализы с помощью сканирующего туннельного микроскопа поверхностной структуры графита, подвергнутого импульсному облучению осколками деления. ПЖТФ, 26.05.2000, т. 26, выпуск 10, с. 1 - 8. БЛЕКФОРД и др. Растровый туннельный микроскоп с высокой стабильностью на основе биморфных пьезоэлементов. Приборы для научных исследований, № 8, 1987, с. 3 - 13. |
| Имя заявителя: | Государственное унитарное предприятие Государственный научный центр РФ Институт теоретической и экспериментальной физики | | Изобретатели: | Суворов А.Л.
Логинов Б.А.
Макеев О.Н. | | Патентообладатели: | Государственное унитарное предприятие Государственный научный центр РФ Институт теоретической и экспериментальной физики |
Реферат | |
Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации. Сущность изобретения: проводят исследования внутри экспериментальных каналов ядерных и термоядерных установок с помощью зондового сканирующего микроскопа. Могут быть исследованы различные характеристики поверхности, для чего выбирают соответствующий зонд и режим его работы.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента