На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ РАДИАЦИОННОГО ПОВЕДЕНИЯ МИКРОТВЭЛОВ ЯДЕРНОГО РЕАКТОРА | |
Номер публикации патента: 2357302 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G21C003/02 | Аналоги изобретения: | RU 2318256 C1, 27.02.2008. RU 2248053 С1, 10.03.2005. RU 2294569 C1, 27.02.2008. GB 1093776 А, 06.12.1967. GB 1026010 А, 14.04.1966. |
Имя заявителя: | Федеральное государственное унитарное предприятие Научно-исследовательский институт Научно-производственное объединение "Луч" (RU) | Изобретатели: | Денискин Валентин Петрович (RU) Курбаков Сергей Дмитриевич (RU) Рязанов Александр Иванович (RU) Федик Иван Иванович (RU) Черников Альберт Семенович (RU) Чугунов Олег Константинович (RU) | Патентообладатели: | Федеральное государственное унитарное предприятие Научно-исследовательский институт Научно-производственное объединение "Луч" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области ядерной энергетики, в частности к способам исследования микротвэловвысокотемпературных газоохлаждаемых реакторов. Способ исследования радиационного поведения микротвэлов ядерного реактора заключается в облучении образцов высокоэнергетическими ионами с последующим изотермическим отжигом при температуре 1500°С и более и анализе образцов до и после облучения.
|