|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ЗАПИСИ ДАННЫХ ПРИ ТЕСТИРОВАНИИ УСТРОЙСТВА ПАМЯТИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ ПАМЯТИ |  |
Номер публикации патента: 2084972 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G11C029/00 G11C007/00 | | Аналоги изобретения: | Заявка Японии N 60-47666, кл. G 11 C 11/34, 1985. Заявка Японии N 60 - 34200, кл. G 11 C 29/00, 1988. |
| Имя заявителя: | Самсунг Электроникс Ко., Лтд. (KR) | | Изобретатели: | Хун Чой[KR] | | Патентообладатели: | Самсунг Электроникс Ко., Лтд. (KR) | | Номер конвенционной заявки: | 89-8002 | | Страна приоритета: | KR |
Реферат | |
Изобретение имеет средства записи данных, средства проверки данных и схему управления. Способ записи данных при тестировании устройства памяти содержит этапы генерирования разности напряжений между парой битовых линий B/L и  и прямого запоминания данных на конденсаторе ячейки памяти. Прямая запись на битовых линиях может быть возможна по данному изобретению. Кроме того, каждая ячейка памяти может быть полностью проверена за один цикл, и время проверки может быть значительно снижено. 2 с. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента