|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| КАНТИЛЕВЕР ДЛЯ СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА |  |
Номер публикации патента: 2161344 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | H01J037/28 G11B011/06 | | Аналоги изобретения: | ANJA BOISEN, et al, AFM probes with directly fabricated tips. J.Micromec.Microengineering, N 6, 1996, p.61. RU 2018188 C1, 15.08.1994. RU 2124251 C1, 27.12.1998. US 5266801 A, 30.01.1993. |
| Имя заявителя: | Ибрагимов Азат Ряшидович,Рабухин Антон Леонидович | | Изобретатели: | Ибрагимов А.Р.
Рабухин А.Л. | | Патентообладатели: | Ибрагимов Азат Ряшидович
Рабухин Антон Леонидович |
Реферат | |
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, изменение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовых режимах. Предлагаемый кантилевер для сканирующего зондового микроскопа включает основание, к которому крепится балка, на дальнем от основания конце которой расположен клиновидный выступ, острие которого параллельно направлению сканирования.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента