Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


СПОСОБ ОПЕРАТИВНОЙ ДИАГНОСТИКИ СОСТОЯНИЙ МНОГОПАРАМЕТРИЧЕСКОГО ОБЪЕКТА ПО ДАННЫМ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ИНФОРМАЦИИ

Номер публикации патента: 2125294

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 97119007 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: G08C015/06   G06F007/00    
Аналоги изобретения: RU 2099792 C1, 20.07.96. SU 1504653 A1, 30.08.89. EP 0493053 A2, 01.07.92. EP 0493105 A1, 01.07.92. 

Имя заявителя: Омельченко Виктор Валентинович 
Изобретатели: Омельченко В.В. 
Патентообладатели: Омельченко Виктор Валентинович 

Реферат


Изобретение относится к области структурного распознавания образцов и может быть использовано в автоматизированных системах оперативной диагностики технического и функционального состояний многопараметрического объекта по данным измерительной информации, а также в системах идентификации, распознавания, контроля и диагностики технического и функционального состояния изделий авиационной и космической промышленности, энергетике, магистральных трубопроводов и т.п. Технический результат заключается в повышении оперативности анализа. Технический результат достигается за счет того, что состояние измерительного параметра представляют из цифрового кода в цветовой код видимого спектра, а весь поток измерительной информации отображают на экране нескольких многоцветных видеомониторов в виде цветокодовой матрицы-диаграммы [nxt], где n - количество измерительных параметров, а t - время их регистрации. При этом используется принцип причинно-следственных зависимостей, происходящих во времени в объекте процессов, отображаемых параметрами, что позволяет однозначно по виду цветокодовой матрицы-диаграммы [nxt] оценить динамику изменения анализируемых процессов с выявлением последовательности их взаимовлияния при переходе из одного состояния в другое. 3 ил.


Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"