|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ УПРАВЛЕНИЯ ПРОЦЕССОМ ПРОИЗВОДСТВА ИЗДЕЛИЙ |  |
Номер публикации патента: 2145731 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G06G001/06 | | Аналоги изобретения: | The new OeVQ sample sliderule - 33 rd EOQC Annual Conference, Vienna - Austria, 18-21, September 1989. SU 1231516 A1, 15.05.86. SU 1275474 A1, 07.12.86. SU 1287188 A1, 30.01.87. SU 1691857 A1, 15.11.91 |
| Имя заявителя: | Всероссийский электротехнический институт им.В.И.Ленина | | Изобретатели: | Адлер Ю.П.
Шпер В.Л. | | Патентообладатели: | Всероссийский электротехнический институт им.В.И.Ленина |
Реферат | |
Изобретение относится к вычислительным устройствам, предназначенным для принятия решений по управлению производственным процессом, и может быть использовано во всех отраслях крупно- и мелкосерийного производства, где продукция на выходе процесса или на отдельных его стадиях изготавливается партиями или непрерывно. Технический результат заключается в повышении качества управления производством, который достигается путем обеспечения производственного персонала простым и удобным средством оценки значений нижней доверительной границы для индекса воспроизводимости Cpk и соответствующего значения выхода годных (уровня дефектности) процесса при различных точечных оценках  и  , различных значениях объема выборки и доверительной вероятности. Для этого предложено устройство, выполненное в виде линейки с перемещающимся движком, представляющее собой таблицу значений нижней доверительной границы для индекса Cpk в зависимости от объемов выборок, значений точечных оценок CPU, CPL и для различных значений доверительной вероятности и таблицу соответствующих значений процента выхода годных изделий, USL и LSL - соответственно верхняя и нижняя границы поля допуска,  выборочное среднее арифметическое значение контролируемого параметра, a s - стандартное отклонение. 3 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента