RU 68705 U1, 27.11.2007. RU 2046365 С1, 20.10.1995. RU 2018148 С1, 15.08.1994. SU 1226532 А1, 23.04.1986. DE 102007004555 А1, 31.07.2008. US 2009058438 A1, 05.03.2009.
Имя заявителя:
Открытое акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские космические системы") (RU)
Изобретатели:
Сашов Александр Анатольевич (RU) Краснов Михаил Игоревич (RU)
Патентообладатели:
Открытое акционерное общество "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские космические системы") (RU)
Реферат
Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для диагностики функционирования микросхем оперативной памяти во всех отраслях микроэлектроники и радиотехники. Техническим результатом является осуществление полного функционального контроля микросхем большой емкости, возможность проверки нескольких ОЗУ одновременно, сокращение времени испытаний, а также удешевление самой конструкции и снижение энергопотребления. Система содержит микроконтроллер с встроенной flash памятью и с двумя аналогово-цифровыми преобразователями (АЦП), преобразователь интерфейса USB в UART, генератор на 100 МГц, датчик температуры микроконтроллера, источники питания на 1,7 Вольт, 2,5 Вольт, 3,3 Вольт, 5,0 Вольт, блок выбора источника питания, блок измерения тока потребления, блок проверки контактирования выводов тестируемых микросхем ОЗУ, преобразователь уровня напряжения управляющих входов тестируемых микросхем ОЗУ, преобразователь уровня напряжения шины адреса тестируемых микросхем ОЗУ, персональный компьютер (ПК), блок питания, драйвер, компаратор, нагрузку для каждой из n линий шины данных тестируемых микросхем ОЗУ, m цифровых датчиков температуры микросхем ОЗУ, закрепленных на корпусе тестируемых микросхем ОЗУ. 3 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента