RU 48084 U1, 10.09.2005. Гуляев Ю.В., Олейников А.Я. Открытые системы: от принципов к технологии // Информационные технологии и вычислительные системы 3/2003. SU 1730631 A1, 30.04.1992. US 5794039 A, 11.08.1998.
Имя заявителя:
Учреждение Российской академии наук Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН (RU)
Изобретатели:
Батоврин Виктор Константинович (RU) Гуляев Юрий Васильевич (RU) Каменщиков Андрей Александрович (RU) Королев Антон Сергеевич (RU) Кочуков Александр Николаевич (RU) Олейников Александр Яковлевич (RU) Широбокова Тамара Дмитриевна (RU)
Патентообладатели:
Учреждение Российской академии наук Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН (RU)
Реферат
Изобретение относится к вычислительной технике. Технический результат заключается в расширении функциональных возможностей за счет многокритериального отбора альтернативных стандартов, задания лингвистического критерия отбора стандартов, а также возможности автоматизированного ранжирования стандартов с выделением оценки приемлемости. Он достигается тем, что в автоматизированной информационной системе для придания совместимости программно-аппаратным компонентам в гетерогенных информационных средах содержит связанные каналами передачи данных: блок ввода информации о компонентах создаваемой новой либо модернизируемой системы, отвечающих требованиям открытых систем, автоматизированная система поддержки построения профиля включает последовательно соединенные блок выбора функциональных служб, выполненный с возможностью выделения типовых и введения специализированных служб анализируемой информационной системы, блок выбора информационных служб, выполненный с возможностью формирования перечня типовых информационных служб, блок выбора служб информационных технологий (ИТ), выполненный с возможностью распределения служб по группам, соответствующим модели анализируемой информационной системы, и блок выбора стандартов ИТ, выполненный с возможностью формирования списка альтернативных стандартов с выделением их свойств, проведения числового анализа и выбора приоритетных стандартов. 9 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента