Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ МИКРОПРОЦЕССОРНЫХ СИСТЕМ

Номер публикации патента: 2392657

Вид документа: C2 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 2008103655/09 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: G06F011/22    
Аналоги изобретения: US 2007/0168735 A1, 19.07.2007. RU 2109329 C1, 20.04.1998. US 2006/0179363 A1, 10.08.2006. US 7181360 B1, 20.02.2007. SU 1160420 A2, 07.06.1985. 

Имя заявителя: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина)" (СПбГЭТУ "ЛЭТИ") (RU) 
Изобретатели: Дейнека Дмитрий Иванович (RU)
Лучинин Виктор Викторович (RU) 
Патентообладатели: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина)" (СПбГЭТУ "ЛЭТИ") (RU) 

Реферат


Изобретение относится к микро- и нанотехнологии и может быть использовано при контроле и диагностировании микропроцессорных систем. Техническим результатом изобретения является расширение функциональных возможностей автоматизированного устройства за счет возможности выявления недокументированных узлов и команд в микропроцессорной системе. Автоматизированное устройство для тестирования микропроцессорных систем содержит: модуль тестирования (1), блоки постоянного (2) и оперативного (3) хранения данных, блок обработки результатов и информации (5), блок управления (4), представляющий собой коммутатор, задатчик (8), первый (6) и второй (7) интерфейсы. Блоки постоянного (2) и оперативного (3) хранения данных и блок управления (4) могут быть сформированы в составе тестируемого объекта. 1 ил.

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"