US 5486677 A, 23.01.1996. EP 1238744 A, 11.09.2002. US 6335504 B1, 01.01.2002. US 5651903 A, 29.07.1997. EP 1371443 A, 17.12.2003. DE 19962967 A, 12.07.2001. US 5121339 A, 09.06.1992. EP 1275464 A1, 15.01.2003. EP 1361015 A1, 12.11.2003. WO 0041837 A1, 20.07.2000. SU 1715532 A1, 28.02.1992. SU 1407729 A1, 07.07.1988.
Изобретение относится к способу для управления качеством промышленного процесса. Технический результат - точное распознавание основных дефектов в производстве. Способ содержит следующие этапы: обеспечивают один или более опорных сигналов (xref) для промышленного процесса; получают один или более реальных сигналов (xreal), которые показывают качество упомянутого промышленного процесса; и сравнивают упомянутые один или более опорных сигналов (xref) с упомянутыми одним или более реальными сигналами (xreal) для определения дефекта в упомянутом промышленном процессе. Согласно изобретению способ, кроме того, содержит следующие операции: получение преобразованного сигнала (Xref_inv_norm) из упомянутого опорного сигнала (xref); получение преобразованного сигнала (Xreal_inv_norm) из упомянутого реального сигнала (xreal); и вычисление энергий (Eref, Ereal) упомянутого преобразованного опорного сигнала (Xref_inv_norm) и упомянутого преобразованного реального сигнала (Xreal_inv_norm) соответственно; причем упомянутая операция сравнения содержит: сравнение друг с другом упомянутых энергий (Eref, Ereal) упомянутого преобразованного опорного сигнала (Xref_inv_norm) и упомянутого преобразованного реального сигнала (Xreal_inv_norm), соответственно, для выделения соответствующих частотно-временных распределений (Tfdref, Tfdreal) для выбранных частотных значений (f-e); вычисление энергий (Etreal, Etref) упомянутых частотно-временных распределений (Tfdref, Tfdreal); и сравнение энергий упомянутых частотно-временных распределений (Tfdref, Tfdreal) с пороговыми значениями (max_Tfdref) для идентификации значений энергий, связанных с дефектами. 2 н. и 9 з.п. ф-лы, 6 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента