СА 2358659 А1, 09.04.2003. CN 1402026 А, 12.03.2003. JP 2007194541 A, 02.08.2007. RU 2326345 C2, 10.06.2008. RU 2282142 C1, 20.08.2006.
Имя заявителя:
Институт автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения Российской академии наук (статус государственного учреждения) (ИАПУ ДВО РАН) (RU)
Изобретатели:
Кульчин Юрий Николаевич (RU) Витрик Олег Борисович (RU) Дышлюк Антон Владимирович (RU) Шалагин Анатолий Михайлович (RU) Бабин Сергей Алексеевич (RU) Шелемба Иван Сергеевич (RU)
Патентообладатели:
Институт автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения Российской академии наук (статус государственного учреждения) (ИАПУ ДВО РАН) (RU)
Реферат
Изобретение относится к области мониторинга деформации и термических процессов с использованием контрольно-измерительных систем на основе волоконных брэгговских решеток. Оптический рефлектометр формирует зондирующий импульс, который через циркулятор попадает на первую опрашиваемую брэгговскую решетку. От решетки отражается часть зондирующего импульса и попадает на опорные решетки, спектры отражения которых находятся на одинаковом расстоянии от спектра опрашиваемой решетки. Формируются два отраженных сигнала с мощностью, которая определяется спектральным промежутком между спектром опрашиваемой решетки и спектром соответствующей опорной. Отраженные сигналы возвращаются в рефлектометр и отображаются на рефлектограмме в виде двух пиков с амплитудой, пропорциональной мощности этих сигналов. При внешнем физическом воздействии на опрашиваемую решетку ее спектр отражения смещается. При этом один из пиков растет, другой уменьшается, а регистрируемым сигналом является разница амплитуд этих пиков. Для регистрации сигналов последующих групп опрашиваемых волоконных брэгговских решеток опорные брэгговские решетки перестраиваются, чтобы исходные резонансные длины волны опрашиваемых волоконных брэгговских решеток находились точно между резонансными длинами волн опорных брэгговских решеток. Технический результат - увеличение диапазона измерений и повышение устойчивости к амплитудным помехам. 7 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента