ГАРКУШИН П.К. и др. Пути интенсификации геологоразведочных работ / Труды Северо-Кавказского горно-металлургического института. - Владикавказ: Федеральное агентство по образованию, 2006, с.192-196. SU 1103178 A1, 15.07.1984. IE 914527 A1, 30.06.1993. WO 8601003 A1, 13.02.1986. Методические указания по разведке и геолого-промышленной оценкеместорождений золота. / Под общей редакцией Г.П.Воларовича. - М.: Министерство геологии СССР. Центральный научно-исследовательский геологоразведочный институт цветных и благородных металлов, 1974 [найдено 20.04.2009]. Найдено из Интернет: <URL: http://www.chersi.ru/nakt/metodau.html>.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный технический университет" (Новочеркасский политехнический институт) (RU)
Изобретатели:
Гаркушин Павел Кириллович (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный технический университет" (Новочеркасский политехнический институт) (RU)
Реферат
Изобретение относится к области геофизики и может быть использовано для воспроизводства контура рудных залежей. Сущность: проводят опережающее зондирование породного массива геофизическими методами по сетке для бурения контрольных геологоразведочных скважин с увеличенным интервалом против нормативного. Бурят геологоразведочные скважины. Исследуют керновый материал. Воспроизводят контур рудных залежей. В межскважинном пространстве производят последующее зондирование породного массива геофизическими методами с поверхности или из горных выработок. Путем сопоставительного анализа исследований кернового материала с геофизическими аналогами устанавливают достоверность воспроизводства контура рудных залежей. Технический результат: снижение объема буроскважинных работ, минимизация потерь полезных ископаемых в предохранительных целиках, повышение экологичности за счет обеспечения высокой надежности гидроизоляции водоносных горизонтов. 3 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента