На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНОГО ПОЛЯ КВАНТОВЫМ МАГНИТОМЕТРОМ |  |
Номер публикации патента: 2071097 |  |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01V003/14 | Аналоги изобретения: | 1. Справочник оператора-магниторазведчика./ Под ред. В.Е.Никитского. - М.: Недра, 1987, с. 176. 2. Авторское свидетельство СССР N 600727, кл. H 03 K 13/20, 1978. |
Имя заявителя: | ВНИИ разведочной геофизики "Рудгеофизика" | Изобретатели: | Вацуро А.Э. Клепер Н.Б. Пак В.П. Яцкаер В.Ю. | Патентообладатели: | ВНИИ разведочной геофизики "Рудгеофизика" |
Реферат |  |
Использование: в измерении магнитной индукции. Сущность изобретения: в мере магнитной индукции производят измерения в ряде точек диапазона измеряемых полей и вычисляют значения систематической погрешности как функцию измеряемого поля B=f(Bx),, которую аппроксимируют отрезками прямых так, чтобы отстояние аппроксимирующих прямых от функции не превышало заданной систематической погрешности, и записывают в память вычислительного устройства (ВУ) значения магнитной индукции Вn в точках пересечения прям
|