На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ИСТОЧНИКА НЕЙТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2315336 |  |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01T001/169 | Аналоги изобретения: | RU 2195005 С2, 20.12.2002. RU 2204149 С2, 10.05.2003. RU 94021401 A1, 10.04.1996. SU 1292469 A1, 15.04.1985. FR 2764076 A1, 04.12.1998. DE 10322712 A1, 04.03.2004. |
Имя заявителя: | Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт импульсной техники" (ФГУП НИИИТ) (RU) | Изобретатели: | Даниленко Константин Николаевич (RU) Игнатьев Георгий Николаевич (RU) Чернов Михаил Юрьевич (RU) | Патентообладатели: | Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт импульсной техники" (ФГУП НИИИТ) (RU) |
Реферат |  |
Предложенное изобретение относится к области технической физики и может быть использовано для скрытного обнаружения слабых или замаскированных источников нейтронного излучения. Техническим результатом, обеспечиваемым заявляемым изобретением, является обеспечение возможности определения места расположения источника нейтронного излучения при одновременном увеличении чувствительности и вероятности правильного обнаружения.
|