На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ЭЛЕМЕНТОВ | |
Номер публикации патента: 1762637 | |
Редакция МПК: | 6 | Основные коды МПК: | G01T001/16 G01N023/203 | Аналоги изобретения: | Левин В.Е. и Хамьянов Л.П. Регистрация ионизирующих излучений. М.: Атомиздат, 1973, с. 173. Лэпп Р.Е. и Эндрюс Г.Л. Физика ядерного излучения. М.: Воениздат, 1956, с. 209. Бовин В.П. и др. Нейтронно-абсорбционный анализатор бора в теплоносителе первого контура ВВЭР. - Атомная энергия, т.38, вып.5, 1975, с. 283. |
Имя заявителя: | Всесоюзный научно-исследовательский институт технической физики и автоматизации | Изобретатели: | Егоров А.Е. Петухов И.И. Шагов С.В. Чистяков Б.Г. Юровицкий |
Реферат | |
Использование: для определения концентрации элементов в условиях переменного нейтронного фона, источником которого является анализируемая среда. Сущность изобретения: для определения концентрации элемента по градуировочной зависимости в условиях переменного нейтронного фона из анализируемой среды регистрируют число импульсов первого и второго детекторов, расположенных на разном расстоянии от источника нейтронов, сравнивают числа зарегистрированных счетчиками импульсов, выполняют последовательное вычитание переменной величины из числа зарегистрированных первым счетчиком импульсов и сравнение соответствующих им значений числа импульсов, полученных на второй градуировочной зависимости, до полного вычитания фоновой составляющей, разность сравниваемых предыдущего и последующего значений должна быть меньше утроенного корня квадратного из числа импульсов, найденного по второй градуировочной зависимости при последнем шаге вычитания. 2 з.п.ф-лы, 3 ил.
|