|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| АНАЛИЗ ЯМР - ДАННЫХ МНОГОКРАТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ НА ОСНОВЕ МАКСИМАЛЬНОЙ ЭНТРОПИИ |  |
Номер публикации патента: 2334975 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N024/00 G01R033/44 | | Аналоги изобретения: | US 2002067164 A1, 06.06.2002. RU 99124409 A, 20.08.2001. RU 98106856 A, 10.02.2000. US 2002105326 A1, 08.08.2002. US 5363041 А, 08.11.1994. |
| Имя заявителя: | ШЛЮМБЕРГЕР ТЕКНОЛОДЖИ БВ (NL) | | Изобретатели: | ХИТОН Николас Дж. (US) | | Патентообладатели: | ШЛЮМБЕРГЕР ТЕКНОЛОДЖИ БВ (NL) |
Реферат | |
Использование: для каротажа скважин с помощью ядерного магнитного резонанса. Сущность: заключается в том, что выполняют множество измерений методом ядерно-магнитного резонанса (ЯМР) системы ядерных спинов, регистрируют ЯМР-данные, полученные в каждом из множества измерений ЯМР, вычисляют многомерное множество данных путем выполнения процесса обратного преобразования на ЯМР-данных, которое не зависит от предварительного знания об области, включая определение отклика флюида от трехмерного измерения
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента