|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОЩАДИ ГИСТЕРЕЗИСНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК НЕЛИНЕЙНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ |  |
Номер публикации патента: 2176398 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R033/14 | | Аналоги изобретения: | ONO Y.А. et al. Transferred change in the active layer and EL device characteristics of TFEL cell. // japanese journal of applied phisics. 1987. - vol. 26. - N 9. - рр. 1482-1492. SINGH V.Р., MORTON D.С., MILLER M.R. Luminescence characteristics of SrS:СеF thin-film electroluminescent devices.//IEEE transaction on electron devices., 1988. vol. ED-35. - N 1. - рр. 38-47. RU 94043436 А1, 10.06.1996. RU 2100819 С1, 27.12.1997. SU 1781650 А1, 15.12.1992. WO 93/19380 А1, 10.08.1996. DE 4127330 А1, 25.02.1993. DE 4122081 С1, 07.01.1993. СТРАХОВ А.Ф. Автоматизированные измерительные комплексы. - М.: Энергоиздат, 1982, с. 24-44, 45-52, 85-98, 99-105. |
| Имя заявителя: | Ульяновский государственный технический университет | | Изобретатели: | Фокин О.С. | | Патентообладатели: | Ульяновский государственный технический университет |
Реферат | |
Использование: при проектировании, производстве нелинейных элементов, таких как тонкопленочные электролюминесцентные индикаторы, магнитные материалы. Технический результат - упрощение процесса измерения, повышение стабильности и точности измерения при автоматизации процесса генерации прилагаемого напряжения любой формы, измерения и расчетов гистерезисных характеристик в реальном масштабе времени за счет организации рекурсивного обмена данными.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента