|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК |  |
Номер публикации патента: 2047183 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01R033/05 | | Аналоги изобретения: | 1. Ялышев Ю.И., Мурашев Г.Р., Лукаш К.И., Показаньев В.Г. Магнитооптическая установка для резонансных исследований тонких пленок -. ПТЭ, 1983, N 5, с.230-231. |
| Имя заявителя: | Тверской государственный университет | | Изобретатели: | Афанасьева Л.Е.
Гречишкин Р.М.
Федичкин Г.М.
Шленов Ю.В. | | Патентообладатели: | Тверской государственный университет |
Реферат | |
Использование: при научных исследованиях и технологическом контроле образцов тонких магнитных пленок, например, гранатовых эпитаксиальных структур. Сущность изобретения: способ включает воздействие на образец постоянным магнитным полем смещения, переменным модулирующим полем и фотоэлектрическую регистрацию переменной компоненты намагниченности, при этом переменное магнитное поле создают с помощью двух синхронных противофазных источников с градиентом, перпендикулярном плоскости образца, и устанавл
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента